高度灵活测试，解决功率器件动态特性分析难题

该系统由泰克高分辨率示波器，光隔离探头，双脉冲信号源，高压电源，功率器件双脉冲测试驱动板，防护舱，芯片温控系统，和自动化测试软件组成。以机柜系统形式交付客户，可以通过上位机软件配置测试设备和测试项目，获取测试结果并生成数据报告。

系统方案旨在帮助解决客户在功率器件动态特性表征中常见的疑难问题，包括如何设计高速工作的驱动电路，如何适配多种芯片封装形式，如何选择和连接探头进行信号测试，如何优化和抑制测试过程中的噪声和干扰。帮助客户在研发设计、失效分析、进厂检测和试产阶段快速评估器件性能，更快应对市场需求改善产品性能。也帮助客户快速验证自研驱动电路，加速应用端解决方案落地。

测试系统具备极高的测试灵活性，软硬件设计方案均由国内团队开发，可以根据客户需求定制驱动电路板设计，更改栅极电阻，负载电感等关键器件参数，满足多种客户测试和应用场景需求。

高效率，高精度

使用泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和专门用于高压差分信号测试的光隔离探头，为三代半导体器件动态特性表征带来更高带宽和更高测试精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同时测量，对于半桥结构双脉冲测试电路，可以同时对上下管信号进行同步测试。光隔离探头提供了极高的共模抑制比，可以在上管测试中提供更准确的波形数据。针对系统中高速电流的测试，使用高精度电流传感器，得到更高的电流测试带宽和更准确的电流波形。同时系统还提供了动态导通电阻测试功能，可以在高速开关状态下对器件的动态导通电阻进行评估，帮助客户更准确的了解器件动态特性。可进行DPT/Qg/Rds(on)测试，单次测试即可完成开关特性和反向恢复特性测试。整个系统采用低回路电感设计（<50nH@2000V系统），测试方案完全符合IEC60747-8/9标准

易用度高

• 符合人体工学的外观设计，确保使用的舒适性
• 简洁美观的软件设计，操作简单易学
• 软硬件开放设计，更高灵活度，可以支持客户进行驱动板更新设计以应对不同封装器件测试
• 实时保存测试结果（CSV），可选择同时保存波形数据，生成报告

开放实验室

泰克科技先进半导体开放实验室汇集了泰克与国内方案合作伙伴共同开发的针对功率半导体器件/模块的参数测试方案和全新的可靠性测试方案，实验室测试能力覆盖广、技术全，从传统硅基器件到三代半功率器件，高压到低压，器件到模块，一站式、全方位的特性测试和表征。

泰克功率器件开放实验室具备远程访问和线上直播的能力，可以随时接入查看测试进程，帮助用户了解实验操作方法和测试流程。实验数据严格遵守管理流程，一对一提供给指定客户，同时提供数据解读分析服务。